基于MPPC阵列的核辐射成像探测器性能影响因素研究
简介：本文使用YSO晶体阵列和MPPC阵列组成核辐射成像探测器,探究了基于MPPC阵列的核辐射成像探测器性能关键影响因素,包括前端电阻网络、光导厚度和光导边缘切割深度.首先,前端电子学实验发现,采用均匀电荷分配电路(SCD)可改善图像变形问题并提高信噪比.接着,在SCD基础上研究了不同厚度光导(0、1.0、1.5、2.0、2.5 mm)对成像性能的影响,结果显示光导厚度为1.5 mm时具有最佳分辨效果,但仍无法区分晶体阵列边缘像素.最后,在1.5 mm光导基础上,对光导外围进行不同深度切割并插入增强型镜面反射膜（ESR）,实验表明全部切透且加入反射膜时,可以明显区分出边缘晶体单元.展开
学者：陶祖才王强肖雄宋宝林张文强刘双全黄先超丁雨憧徐扬
关键词：MPPC阵列YSO晶体阵列核辐射成像探测器电子学前端电阻网络光导厚度光导边缘切割深度
分类号：TL812+.1(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)
资助基金：国家重点研发计划;国家重点研发计划;中电科芯片(集团)有限公司发展资金(K2602ZZ2023032)
在线出版日期：2025-03-12 （网站首发日期）
